用半自動和自動圖象分析法測量平均粒度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 21865-2008

替代情況：

發(fā)布單位：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

起草單位：中國檢驗(yàn)檢疫科學(xué)研究院、中化化工標(biāo)準(zhǔn)化研究所、廣東出入境檢驗(yàn)檢疫局

發(fā)布日期： 2008-05-12

實(shí)施日期： 2008-09-01

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更新日期： 2020年05月09日

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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)為首次發(fā)布。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬和非金屬多晶體材料的平均晶粒度、截距和晶粒面積分布的基本測量方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于等軸型和伸長型晶粒結(jié)構(gòu)的單一相和雙相系試樣。
本標(biāo)準(zhǔn)同樣適用于其他類似晶型結(jié)構(gòu)的物質(zhì)，如蜂窩結(jié)構(gòu)的物質(zhì)。
本標(biāo)準(zhǔn)需要使用半自動或全自動圖像分析儀器。
本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性試驗(yàn)方法，它不能確定受檢驗(yàn)材料是否接受或適合適用的范圍。
本標(biāo)準(zhǔn)未考慮與試驗(yàn)相關(guān)的所有安全問題。試驗(yàn)人應(yīng)自己負(fù)責(zé)與安全及健康相關(guān)的措施。本標(biāo)準(zhǔn)等同采用美國材料與試驗(yàn)協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)ＡＳＴＭＥ１３８２：０４《用半自動和自動圖像分析法測量平均粒度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法》（英文版）。