GB/T5594的本部分規(guī)定了氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷顯微結(jié)構(gòu)的測定方法。
本部分適用于氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷顯微結(jié)構(gòu)的測定。
本部分只涉及光學(xué)顯微鏡的測定內(nèi)容和測定方法。