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半導體集成電路 第三代雙倍數據速率同步動態隨機存儲器 (ddr3 sdram)測試方法

標 準 號： GB/T 36474-2018
替代情況：
發布單位： 中國國家標準化管理委員會
起草單位： 中國電子技術標準化研究院
發布日期： 2018-06-07
實施日期： 2019-01-01
點 擊 數：
更新日期： 2018年10月03日
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內容摘要

本標準適用于半導體集成電路領域中第三代雙倍數據速率同步動態隨機存儲器功能驗證和電參數測試。

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