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元器件位移損傷試驗方法

標 準 號： GB/T 42969-2023
替代情況：
發布單位： 國家市場監督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位： 中國空間技術研究院、中國工程物理研究院核物理與化學研究所、西北核技術研究院
發布日期： 2023-09-07
實施日期： 2024-01-01
點 擊 數：
更新日期： 2023年10月22日
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內容摘要

本文件描述了元器件位移損傷的試驗方法。
本文件適用于光電集成電路和分立器件，如電荷耦合器件（CCD）、光電耦合器、圖像敏感器（APS）、光敏管等，用質子、中子進行位移損傷輻照試驗。
其他元器件的位移損傷輻照試驗參照進行。

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