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半導體器件 機械和氣候試驗方法 第3部分：外部目檢

標 準 號： GB/T 4937.3-2012
替代情況：
發布單位： 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位： 中國電子科技集團公司第十三研究所
發布日期： 2012-11-05
實施日期： 2013-02-15
點 擊 數：
更新日期： 2025年02月14日
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內容摘要

T 4937的本部分的目的是驗證半導體器件的材料、設計、結構、標志和工藝質量是否符合適用的采購文件的要求。外部目檢是非破壞性試驗，適用于所有的封裝類型。本試驗用于鑒定檢驗、過程監控、批接收。

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