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通用集成電路卡（UICC）與終端間大容量存儲接口特性測試方法 第2部分：UICC

標 準 號： YD/T 3037.2-2023
替代情況： 替代 YD/T 3037.2-2016
發布單位： 中華人民共和國工業和信息化部
起草單位： 中國信息通信研究院 等
發布日期： 2023-12-20
實施日期： 2024-04-01
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更新日期： 2025年05月16日
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內容摘要

本文件規定了通用集成電路卡（UICC）與終端間大容量存儲接口特性的UICC部分測試方法，主要包括：物理特性、電氣特性、初始通信協議的建立、功能測試和性能測試。
本文件適用于支持大容量存儲接口的UICC卡的研發和生產。

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