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金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法

標 準 號: GB/T 15653-1995
替代情況:
發(fā)布單位: 國家技術監(jiān)督局
起草單位: 電子工業(yè)部標準化研究所
發(fā)布日期: 1995-07-24
實施日期: 1996-04-01
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更新日期: 2025年09月07日
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內容摘要

本標準規(guī)定了金屬氧化物半導體氣敏件性能參數測試方法的基本原理,沒有規(guī)定這些方法在實際使用時的技術細節(jié),測試時可按相應的詳細規(guī)范的規(guī)定進行。本標準適用于金屬氧化物半導體氣敏件性能參數的測試,其他氣敏件亦可參照使用。

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