本標準參考了IEC 60333：1993《核儀器 半導體帶電粒子探測器 測試程序》。
本標準代替GB/T 13178-1991《金硅面壘型探測器》。
本標準規(guī)定了部分耗盡金硅面壘型探測器（簡稱探測器）的產(chǎn)品分類、技術要求、測試方法、檢驗規(guī)則等。
本標準適用于部分耗盡金硅面壘型探測器（不包括位置靈敏探測器）。鋰漂移金硅面壘型探測器也
可參照執(zhí)行。
本標準保留GB/T 13178-1991的大部分內(nèi)容，對其的主要修改如下：
——增加前言；
——引用新的規(guī)范性文件；
——產(chǎn)品的外形及結構尺寸僅保留A型，刪去原標準的B型和C型；
——部分耗盡金硅面壘型探測器的分類僅保留最小耗盡層深度為300μm一類，而主要性能增加“允許最大噪聲”。