日韩国产精品久久久亚洲,久久亚洲国产精品综合,婷婷久久一区二区字幕网址你懂得,在线最新av免费费观看 ,国产一区二区三区四区视频,日本A片大尺度高潮无码电影,日本无码一二三区别免费,久久九九AV免费精品,日韩人妻少妇一区二区三区,中文字幕精品亚洲字幕资源网

安全管理網

現行
導航：安全管理網>> 安全標準>> 行業標準>> 冶金>>正文

硅單晶中Ⅲ-Ⅴ族雜質的光致發光測試方法

標 準 號： GB/T 24574-2009
替代情況：
發布單位： 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位： 信息產業部專用材料質量監督檢驗中心、中國電子科技集團公司第四十六研究所
發布日期： 2009-10-30
實施日期： 2010-06-01
點 擊 數：
更新日期： 2025年03月03日
下載地址：點擊這里 963.29KB
下載點數：30點（VIP會員免費）
內容摘要

本標準規定了硅單晶中Ⅲ-Ⅴ族雜質的光致發光測試方法。
本標準適用于低位錯單晶硅中導電性雜質硼和磷含量的同時測定。
本標準用于檢測單晶硅中含量為1×1011at·cm-3~5×1015at·cm-3的各種電活性雜質元素。?

下載地址（請點擊下面地址下載）
*本標準來自網友 huipu4411 分享，只作為網友的交流學習之用。
如需幫助，請聯系我們。聯系電話：400-6018-655。
網友評論 more
創想安科網站簡介會員服務廣告服務業務合作提交需求會員中心在線投稿版權聲明友情鏈接聯系我們