本文件描述了電子元器件在實(shí)際貯存條件下隨時間推移的退化機(jī)理和退化方式，以及評估一般退化機(jī)理的試驗(yàn)方法。
通常本文件與IEC 62435-1一起使用，用于預(yù)計貯存時間超過12個月的長期貯存器件。
特定類型電子元器件的退化機(jī)理在IEC 62435-5～I(xiàn)EC 62435-9中加以規(guī)定。
海上風(fēng)力發(fā)電機(jī)組調(diào)試技術(shù)規(guī)程微波無源器件用高溫超導(dǎo)薄膜技術(shù)規(guī)范信息技術(shù) 數(shù)字孿生 第2部分：數(shù)字實(shí)體高壓直流輸電系統(tǒng)控制與保護(hù)設(shè)備 第6…高壓直流輸電系統(tǒng)控制與保護(hù)設(shè)備 第5…電動汽車負(fù)荷聚合系統(tǒng) 資源接入通信…繼電保護(hù)和安全自動裝置運(yùn)行管理規(guī)程電視收視率調(diào)查準(zhǔn)則
