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電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第4部分:介電常數和介質損耗角正切值的測試方法

標 準 號: GB/T 5594.4-2015
替代情況: 替代 GB/T 5594.4-1985
發布單位: 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 中國電子科技集團公司第十二研究所、中國電子技術標準化研究院、北京七星飛行電子有限公司
發布日期: 2015-05-15
實施日期: 2016-01-01
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更新日期: 2026年02月25日
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內容摘要

GB/T 5594的本部分規定了裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導體及集成電路等基片等用電子陶瓷材料介電常數和介質損耗角正切值的測試方法。
本部分適用于裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導體及集成電路基片等用電子陶瓷材料在頻率為1MHz,溫度從室溫至500℃條件下的介電常數和介質損耗角正切值的測定。

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