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顆粒技術(shù) 微納米異質(zhì)結(jié)構(gòu)分析 透射電子顯微鏡法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: T/CSP 13-2024 T/BSPT 6-2024
替代情況:
發(fā)布單位: 中國顆粒學(xué)會 北京 粉體技術(shù)協(xié)會
起草單位: 國家納米科學(xué)中心、國標(biāo)(北京)檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司、國合通用測試評價(jià)認(rèn)證股 份公司、北京市科學(xué)技術(shù)研究院分析測試研究所
發(fā)布日期: 2024-11-18
實(shí)施日期: 2024-11-26
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更新日期: 2026年04月18日
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內(nèi)容摘要

本文件描述了采用透射電子顯微鏡法對微納米異質(zhì)結(jié)構(gòu)樣品的形貌、成分及結(jié)構(gòu)進(jìn)行測量及分析的方法,包括原理、儀器設(shè)備、樣品制備及步驟。


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