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高速模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片（ADC）測試設(shè)備

標 準 號： T/BDT 003—2024
替代情況：
發(fā)布單位： 中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會
起草單位： 南京派格測控科技有限公司、南京國博電子股份有限公司、無錫卓?？萍脊煞萦?限公司、宏晶微電子科技股份有限公司
發(fā)布日期： 2024-10-09
實施日期： 2024-10-10
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更新日期： 2026年06月03日
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內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了高速模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片（ADC）測試設(shè)備的產(chǎn)品分類、要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸和貯存。


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