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本文件界定了GB/T 42749的術語和概念，確立了ITES-BPO生存周期以及GB/T 42749各部分同其他相關標準的關系。 本文件適用于服務提供方了解ITES-BPO生存周期內的確保服務完整性的類似、相關的所有過程，有助于服務提供方應用GB/T 42749的各部分。

本文件確立了過程評估要求的指導，提供了過程評估模型的應用指南。 本文件適用于服務提供方通過過程評估模型對ITES-BPO生存周期內的確保服務完整性的類似、相關的所有過程進行過程評估、過程改進和過程能力差距的評估。

為統一水電工程潰壩洪水與非恒定流計算的原則、內容、方法和技術要求，制定本規范。

本文件規定了電網調度機構和并網運行陸上風電場（以下簡稱風電場）的并網管理、調試管理、運行調度管理、發電計劃管理、檢修管理、繼電保護和安全自動裝置管理、通信運行管理以及調度自動化管理要求。

本文件規定了電網調度機構和并網運行海上風電場的并網管理、調試管理、運行調度管理、發電計劃管理、檢修管理、繼電保護和安全自動裝置管理、通信運行管理以及調度自動化管理要求。

本文件界定了半導體器件長期貯存的相關術語、定義和原理。長期貯存作為一種延緩淘汰的策略，是指產品預計貯存時間超過12個月的貯存。本文件提供了有效進行元器件長期貯存的理念、良好工作習慣和一般方法。

本文件描述了電子元器件在實際貯存條件下隨時間推移的退化機理和退化方式，以及評估一般退化機理的試驗方法。 通常本文件與IEC 62435-1一起使用，用于預計貯存時間超過12個月的長期貯存器件。 特定類型電子元器件的退化機理在IEC 62435-5～IEC 62435-9中加以規定。

本文件規定了單個芯片、部分晶圓或整個晶圓，以及帶金屬結構（引入金屬層、植球植柱等)芯片的貯存條件和規則，同時為含有芯片或晶圓的通用和專用封裝產品提供了操作指導。 本文件適用于預計貯存時間超過12個月的芯片和晶圓的長期貯存。

本部分從卡片檢測的角度描述了對借記/貸記交易流程的要求，包括卡片內部處理細節、卡片使用數據元、卡片支持指令集等。

本部分從終端檢測角度描述了借記/貸記交易流程的要求，包括終端硬件需求、終端內部處理細節、終端使用數據元、終端支持指令集等。

本部分從卡片檢測的角度描述了對借記/貸記卡片個人化的要求。

本部分從卡片檢測角度描述了非接觸快速借記/貸記交易流程的要求，包括電氣特性通訊協議測試和應用內核測試等。

本部分給出了非接觸IC卡支付終端模擬測試案例、非接觸IC卡支付終端協議測試案例、非接觸IC卡支付終端QPBOC應用測試案例。

JR/T 0109的本部分規定了智能電視支付體系中各種交易的正常處理流程和異常處理流程。

JR/T 0109的本部分規定了智能電視支付體系中聯機交易使用的報文接口，包括報文格式以及報文主要要素。

JR/T 0109的本部分規定了智能電視支付交易網絡中安全傳輸數據信息應達到的要求，包括數據傳輸安全要求、密鑰管理方法和加密方法。

JR/T 0109的本部分規定了智能電視支付交易網絡中聯機交易與文件傳輸的通信接口協議。

JR/T 0109的本部分規定了智能電視支付應用終端的硬件要求以及客戶端軟件的管理及安全要求。

本文件規定了火力發電廠蒸汽管道壽命評估的條件、流程和程序、基礎工作、壽命計算推薦的方法及壽命評估報告。

本文件規定了以室內導航為主的實時定位系統性能的測試要求，描述了其測試方法。 本文件適用于以室內導航為主的實時定位系統性能的測試與評價。

本文件規定了緊縮場場地性能確認方法，包括一般要求、測量系統、測量方法、試驗報告以及安全防護要求等。本文件適用于工作頻率范圍為0.6 GHz～110 GHz的緊縮場場地性能的確認，其他頻率范圍參照使用。

本文件界定了智能音箱智能化等級分類，規定了智能音箱的系統架構、聲頻性能、語音交互、安全性，以及智能音箱智能化技術要求，描述了對應的測試方法。 本文件適用于智能音箱產品及其系統的研發、設計和測試，其他采用語音交互技術的智能硬件產品也可參考使用。

本文件描述了帶有顯示屏的電子設備的藍光測量方法。適用于直視型顯示設備，包括電視機、顯示器、平板電腦等，其他顯示設備可參照使用。

本文件規定了采用液晶（LCD）顯示技術的電視接收設備顯示性能的基本技術要求，描述了對應的測量條件和測量方法。 本文件適用于基于液晶顯示技術的電視接收設備的設計、生產和檢驗。

本文件規定了支持高動態范圍（HDR）技術的電視接收設備 HDR性能的基本技術要求，描述了對應的測量條件和測量方法。適用于基于液晶顯示技術、有機發光二極管顯示技術的電視接收設備的設計、生產和檢驗，其它顯示技術的電視接收設備可參照使用。

本文件規定了基于低頻噪聲參數的電子元器件可靠性評價方法的通用要求，為具體電子元器件可靠性的低頻噪聲評價方法標準的制定和實施提供指導。 本文件適用于在電子元器件生產過程中及使用前對元器件可靠性進行評價，由研制生產企業、用戶或其它相應檢測機構實施。

本文件規定了用于光電耦合器件可靠性評價的低頻噪聲參數、評價方法及方法應用。

本文件規定了用于穩壓二極管可靠性評價的低頻噪聲參數、評價方法及方法應用。

本文件依據電壓調整器低頻噪聲參數測試要求和測試技術現狀，規定了 1Hz～300kHz 頻率范圍內的低頻噪聲參數測試方法，主要包括電壓調整器低頻噪聲測試的測試參數、測試條件、測試偏置電路、測試程序、資料性附錄等，適用于電壓調整器產品低頻噪聲參數測試。

本文件規定了 3DG2484 產品的外形、極限值、電特性及考核要求。